Câmaras de choque térmico de aço inoxidável personalizadas

No âmbito da eletrônica e da fabricação industrial, a necessidade de componentes resistirem a condições ambientais adversas é de suma importância. As Câmaras de Choque Térmico Personalizadas, projetadas para atender aos padrões de teste IEC-60068-2-14, Teste Na², surgem como um ativo crucial na avaliação e aprimoramento da durabilidade de uma ampla gama de produtos.

Esta câmara de choque térmico personalizada é dedicada a submeter componentes e produtos aos requisitos específicos de teste de choque térmico descritos na norma IEC-60068-2-14, Teste Na². Ela atende a indústrias como automotiva, aeroespacial, telecomunicações e eletrônicos de consumo.

O objetivo principal é avaliar a capacidade de componentes como placas de circuito, conectores, sensores e invólucros de suportar flutuações rápidas e extremas de temperatura. Ao replicar os cenários de choque térmico que esses componentes podem encontrar durante suas vidas operacionais, os fabricantes podem identificar possíveis pontos fracos, otimizar os processos de projeto e fabricação e garantir a confiabilidade e o desempenho de seus produtos em ambientes diversos e desafiadores.

• Estrutura da Câmara Robusta e Isolada
  A câmara é construída com materiais resistentes e resistentes ao calor que podem suportar as intensas tensões térmicas. As paredes são feitas de liga de aço de alta resistência, combinada com camadas avançadas de isolamento térmico para minimizar a transferência de calor entre as zonas quente e fria. A porta é projetada com um mecanismo de vedação confiável e uma janela de visualização, permitindo que os operadores monitorem o processo de teste sem comprometer a integridade da câmara. O interior é projetado com racks e acessórios ajustáveis, permitindo a acomodação de componentes de vários tamanhos e formatos e garantindo a exposição uniforme às condições de choque térmico.
• Sistema de Controle de Temperatura de Precisão
  Faixa de Temperatura e Ciclagem: Capaz de atingir uma ampla faixa de temperatura, normalmente de -60°C a +150°C. O sistema pode executar a ciclagem rápida de temperatura entre as zonas quente e fria, com um tempo de transição tão curto quanto alguns segundos. Isso é essencial para imitar as mudanças bruscas de temperatura que os componentes podem experimentar em aplicações do mundo real, como quando um dispositivo é ligado ou desligado, ou quando exposto a fontes de calor externas. O controle de temperatura é preciso em ±0,3°C, fornecendo resultados de teste confiáveis e repetíveis.
• Painel de Controle Intuitivo e Interface de Aquisição de Dados
  O painel de controle foi projetado para ser fácil de usar, permitindo que os operadores definam e ajustem facilmente os parâmetros de teste, como níveis de temperatura, tempos de permanência em cada zona e o número de ciclos de choque térmico. Ele fornece exibições em tempo real da temperatura atual em ambas as zonas, o status do processo de teste e quaisquer alarmes ou avisos. A câmara é integrada a um sistema abrangente de aquisição de dados que registra todos os dados de teste relevantes. Isso inclui históricos de temperatura, tempos de ciclo e quaisquer alterações observáveis nas propriedades físicas, elétricas ou mecânicas dos componentes. Os dados podem ser armazenados em uma memória interna ou exportados para dispositivos de armazenamento externos para análise posterior. O sistema também pode gerar relatórios de teste detalhados em vários formatos.
• Recursos de Segurança e Alarmes
  Para garantir a segurança dos operadores e a proteção das amostras de teste e da própria câmara, uma série de recursos de segurança é incorporada. Estes incluem sistemas de proteção contra sobretemperatura e sobrecorrente, botões de parada de emergência e alarmes para flutuações anormais de temperatura, mau funcionamento do equipamento ou quaisquer outros problemas relacionados à segurança. A câmara também é equipada com sistemas adequados de ventilação e exaustão para lidar com quaisquer gases ou vapores potencialmente nocivos que possam ser gerados durante o processo de teste.